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不饱和型 HAST 试验箱无冷凝抑制与温压湿耦合控制研究

摘要高压加速老化试验（HAST）广泛用于半导体封装、PCB线路、塑封器件的湿气可靠性验证，JESD22-A110标准区分饱和型与不饱和型HAST工况。不饱和HAST核心约束条件为腔

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